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1. FEI Talos F200X G2材料型场发射透射电镜的电子枪为肖特基热场发射超亮电子枪，STEM 分辨率可以达到0.16nm。 2. 配备4个SDD探头的超级能谱集成到了透射电镜的极靴里面，对称地放在样品的上方，可以高效率探测到微量元素，以及材料成分在一维，二维，甚至三维空间的分布信息。 3. Talos F200X G2还安装了STEM明场和暗场探头，可以同时得到STEM的明场像和暗场像以及髙角环形暗场像（HAADF)。

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加速电压: 200 KV； 电子枪：肖特基热场发射超亮电子枪； TEM点分辨率：0.25 nm； TEM信息分辨率: 0.12 nm； STEM分辨率: 0.16 nm； 样品倾斜角度X/Y：±30°； 能谱能量分辨率：136 ev; 元素检测范围：B～U元素。

1. 透射电镜不能直接观察所有含有铁钴镍元素的样品，请做如下处理，否则不予以观察：

粉末样品请包埋切片，块体样品请FIB切片；

2. 透射电镜能够观察200nm以下的样品； 

3. 对于粉末和液体样品，要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥，能够区分正反面； 

4. 对于块体样品，要求样品大小为直径3mm的圆，厚度小于200nm； 

5. 高分辨样品要求厚度小于10nm。

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