进口电磁阀

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(1)超高分辨率的电镜适合多种试样的极限观察;(2)超高分辨率的FIB可以进行精确的试样加工,尤适合制备定区域TEM薄片;(3)TOF-SIMS有着远胜于EDS的空间分辨率;(4)元素深度剖析有着非常高的Z方向分辨率,非常适合薄膜分析;(5)具有ppm级的探测灵敏度;(6)可进行同位素分析。

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SEM分辨率: 0.7nm @ 15kV(COF)、1.0nm @ 15kV 1.0nm @ 1kV(COF)、1.4nm @ 1kV FIB分辨率:2.5nm @ 30kV FIB束流:1pA~50nA 探测器: 样品室和镜筒内二次电子探测器 样品室和镜筒内背散射电子探测器 质谱质量分辨率:>800 质谱探测极限:3ppm 质谱空间分辨率:40nm(水平方向) 3nm(深度方向) 附件:能谱仪(EDS)、EBSD
送检样品必须为干燥固体、块状、片状、纤维状及粉末状均可。应有一定的化学、物理稳定性,在真空中及电子束轰击下不会挥发或变形;无磁性、放射性和腐蚀性。含水分较多的生物软组织的样品制备,要求用户自己进行临界点干燥之前的固定、清洗、脱水及用醋酸(异)戊酯置换等处理,最后由本室进行临界点干燥处理。观察图像样品应预先喷金膜。一般情况下,样品尽量小块些(≤10x10x5mm较方便)。粉末样品每个需1克左右。纳米样品一般需超声波分散,并镀铂金膜。