X射线显微镜（CT）Xradia 520 Versa-品牌仪器-商城-瞬态吸收, XANES, 光谱专业测试

1.可用于各类样品内部结构的无损三维成像，及在原位条件下（变温、拉伸、压缩）的三维结构表征分析。 2.可实现样品内部亚微米或微米级的无损原位三维结构成像，如复合材料、高分子聚合物、涂层、电子元件、化石文物、岩石、动植物组织等各种材料进行3D成像与分析。 3.适用于材料科学、生命科学、航空航天、考古、地球科学、电子半导体等领域。

该设备属于高分辨（亚微米级，最高空间分辨率达0.7um）的CT，可实现样品的无损三维形貌成像，应用面非常广泛。

1.X射线显微镜可无损观测固体、粉末或乳液等样品的内部三维结构，最大样品尺寸为300 mm，需进行高分辨率测试（体素分辨率≤1μm）的样品，为获得最佳成像质量，样品的宽度与厚度尽量在1mm左右； 2.对于动物组织样品，请将待测组织在4℃用戊二醛或多聚甲醛固定，以免内部结构分解变形； 3.对于植物组织样品，待确定测试时间后再送样，以免植物组织脱水变形，影响测试结果。

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加速电压30~160kV；空间分辨率700 nm；CCD像素2048×2048；原位样品台：变温 -20℃ ~ +160℃，拉力0~5 KN。

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