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PIPS II采用聚焦离子束对样品进行减薄，用于制备透射电镜试样。适用性广泛，可对金属、陶瓷、薄膜、复合材料、颗粒等各种材料进行减薄处理。
PIPS II通过离子枪激发获得离子束，以一定入射角度对样品进行轰击，去除样品表面原子，实现对样品减薄的效果。该仪器主要用于金属、陶瓷、薄膜、复合材料、颗粒等各种材料透射电镜样品的减薄。配备的液氮冷台可消除热效应产生的样品损伤，满足温度敏感性样品减薄的需求；其低能量离子枪最低能量仅0.1KeV，适合能量敏感性样品；WhisperLok?功能可对样品进行定位，提高减薄区域的精度控制；CCD数码变焦显微镜系统可以实时监测、采集并存储图像，精准控制减薄过程。 特性：低能聚焦双离子枪减薄、CCD实时观察、触摸屏控制、液氮冷台
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