品型号:Tecnai G2 F30

生产厂家:荷兰FEI公司

仪器介绍:Tecnai G2 F30 是一台真正多功能、多用户环境的场发射透射电子显微镜。该仪器将各种透射电镜技术（包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS频谱成像等）进行方便灵活地有机组合，形成了强大的分析功能，从而在同类型仪器中独占鳌头。除具有200KV的各种优点外，Tecnai G2 F30提供了300KV的加速电压，可分析更厚、更具挑战性的样品。同时，该仪器使用户可以在原子尺寸的分辨率下进行高质量、高稳定性的TEM、STEM和纳米分析。

主要附件：

• 主机系统：Tecnai G2 F30 S-TWIN 透射电镜主机、单倾样品杆、低背景双倾样品杆等部件；
• 一体化STEM系统：STEM硬件、扫描图像技术、高角环形暗场探测器（HAADF Detector）、明场/暗场探头（BF/DF Detector）；
• 一体化能谱仪系统：Oxford能谱探头、能谱分析技术；
• 一体化GIF系统：EFTEM＆EELS。

技术参数:

• 信息分辨率极限：0.14 nm
• 点分辨率：0.205 nm 线分辨率：0.102 nm
• 高分辨STEM分辨率：0.16 nm
• 样品最大倾角：(α) +/-40o；(β, 双倾样品杆) +/-30o
• EDS能量分辨率：＜136 ev
• GIF系统能量分辨率：≤0.7 ev(Extr≤3 KV)；≤1.0 ev(Extr=4 KV)

应用范围:广泛应用于材料、化学、物理、地质、地理、环境、生物、医学、金属、半导体、高分子、陶瓷等学科及领域。