产品型号:Empyrean
生产厂家:荷兰帕纳科公司PANalytical B.V.(原飞利浦分析仪器)
仪器介绍:统一的平台和仪器,样品范围齐全,种类和范围最广泛的样品台。仪器采用了世界上第一个3维探测系统PIXcel3D,用户可以在各种应用设置之间利用帕纳科成功的预校准模块(PreFIX)技术进行快速且低成本的转换,无需重新校准系统,且不会降低衍射数据的质量。
主要附件:
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配套旋转透射样品台;
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反射及透射样品架;
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小角散射模块;
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织构和应力模块;
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微区模块;
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3D断层影像系统(CT);
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薄膜模块(Mirror);
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空气敏感功能测试;
技术参数:
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χ射线发生器: 最大功率:4KW,最大管压:60KV,最大管流:60mA
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陶瓷χ光管: 最大功率:2.2KW(Cu靶),最大管压:60KV,最大管流:60mA
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测角仪: 扫描方式:θ/θ模式,角度重现性:±0.0001° ,最小可控步长:0.0001°可停止在任何规定角度
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探测器: PIXcel3d全能矩阵探测器:计数矩阵:256×256 pixcel, 像素大小:55μm×55μm,动态范围:1×1010cps,最大静态扫描范围:5.0°,最小背景:0.5cps(全探测器)
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五轴欧拉样品台(Chi-Phi-X-Y-Z):Phi轴范围96°,样品体积:直径80mm,高度16mm,X轴:54mm,0.01mm,Y轴:54mm,0.01mm,Z轴12mm,0.001mm,载重500g
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CT断层影像测试,提供三维信息,空间分辨率55μm3,样品尺寸14mm3
技术特点:
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计算机X射线断层扫描技术(CT)具有非破坏性地研究固态物体小到微米尺寸范围的尺寸、形状、内部微结构和孔隙分布的能力。可以进行某些感兴趣区域的X射线衍射分析
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结合HighScore软件,采用了最先进的算法,Empyrean可在短短数分钟之内提供最佳结果。可以采取自动化的测量、分析和总结报告程序,并可用标样及校准峰或无标全谱分析方法进行定量分析
应用范围:可用chi-tilt(转动)方法完成择优取向(织构)和残余应力分析,平行光路几何用于表面粗糙和不规则形状物体的相鉴定分析。小角X射线散射,直接分析纳米粒子的粒度,孔径分布计算。微区扫描附件可扫描微小区域内物相分析。