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电子背散射衍射花样取向分析系统(EBSP)

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产品型号: OIM系统/Pegasus(与能谱一体化系统)

生产厂家:美国伊达克斯有限公司EDAX Inc.

仪器介绍:用于扫描电镜的电子背散射衍射分析系统OIM / EBSP,以及用于扫描电镜的电子背散射衍射相鉴定分析系统Delphi – Phase ID。OIM Data Collection 用来采集和分析扫描电镜中的电子背散射衍射(EBSD)花样的一套功能非常强大的集成工具包。在交互模式和自动模式下都可以采集晶体取向数据,十分方便地满足任何现代材料科学、材料表征或地质科学实验室的需求。

技术参数:

  • 像素分辨率达1300×1024以上
  • 计算机控制的衍射花样收集模式
  • 4096灰度级别
  • 角度分辨率优于0.5°
  • 相鉴定功能:包揽七大晶系,具有最大的相鉴定数据库

技术特点:

  • 采用六方网格采样自动完成OIM扫描,进行晶体学/织构分析功能,如晶粒,晶界分析;应变形变分析等。
  • 能同时采集X射线(成分)与结构(OIM/EBSP)信号(快速相鉴定的必要条件)
  • 与SEM一体化,直接采集、显示和处理电子像。
  • 三重表决(voting)的专利指标化程序。
  • 含有广泛的分布图、图表、绘制图和交互分析工具的OIM扫描数据综合分析软件。

应用范围:在仪器上集多领域手段于一体的显微成分、显微形貌、显微结构和显微织构的现代化显微分析系统。